IEC標準【InternationalElectrotechnicalCommission(國際電工委員會)】 |
68號出版物：基本環(huán)境試驗法 |
147-5號出版物：半導體器件的機械及耐氣候性試驗方法 |
MIL標準【Military Standard(美國軍用標準)】 |
MIL-STD-202：電子、電器元器件試驗方法 |
MIL-STD-750：分立半導體器件試驗方法 |
MIL-STD-833：微電子器件試驗方法 |
BS標準【British Standard(英國標準)】 |
BS-9300：半導體器件的試驗方法 |
BS-9400：IC的試驗方法 |
JIS標準[Japanese Industral Standard(日本工業(yè)標準)] |
JIS C 7021:分立半導體器件的環(huán)境試驗方法和疲勞試驗方法 |
JIS C 7022:半導體集成電路的環(huán)境試驗方法和疲勞試驗方法 |
EIAJ標準【Standard Electronic Industries Association of Japan(日本電子機械工業(yè)協(xié)會標準)】 |
SD-121：分立半導體器件的環(huán)境和疲勞性試驗方法 |
IC-121：集成電路的環(huán)境及疲勞性試驗方法 |
其他：NASA標準，CECC標準，防衛(wèi)廳標準，汽車工業(yè)標準等 |